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新聞稿
AWR的Microwave Office 和視覺系統模擬軟體 使National Instruments開發出高性能向量信號分析儀
加利福尼亞州，El Segundo - 2011年4月13日
事件：向工程師和科學家提供測量、自動化以及嵌入式應用軟體解決方案和硬體的供應商National Instruments (NI)對一款20 Hz至3.6 GHz的降頻變換器的性能進行了成功優化，該部份是NI的PXIe-5665向量信號分析儀（VSA）中所使用的關鍵元件。通過使用AWR公司的Microwave Office® 和Visual System Simulator™ (VSS) 軟體，NI能夠對該降頻變換器進行優化，並且遵守特定的空間限制條件，從而成功地開發出本款高性能VSA。
作為本項目中面臨的一項重要設計挑戰，占位面積方面的限制通常會有損於一些性能參數，如絕緣和RF功率等，這些都是以往5665 VSA開發中無法選擇的。AWR的軟體解決方案使NI能夠在VSS中模擬降頻變換器，然後從Microwave Office的Modelithics庫中選擇各種元件。
"我們已經在PXIe-5665 VSA的整個開發流程中應用AWR的Microwave Office和視覺系統模擬器（Visual System Simulator），"National Instruments 的RF產品研發硬體總監 Jin Bains 這樣說到。"這些工具非常直觀，使我們在進行關鍵RF設計時能夠將往復次數降至最少。此外，AWR的支持和檔所表現出的高水準也給我們留下深刻印象。
地點：線上http://web.awrcorp.com/Taiwanese/Success-Stories/National-Instruments/
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