Other AWR Sites
MICROWAVE OFFICE® サクセス・ストーリー
Multitest
Microwave OfficeのACE技術により、Multitest社の高パフォーマンスICテスト基板のシミュレーション時間を大幅に削減
設計上の課題
同社の主要顧客は、複数国にわたる半導体製造企業であり、高い品質の維持が求められています。
この高品質の確保のため、高度なイノベーションに基づく顧客の要望に応じたテスト処理の取り扱いを提供しています。高いスループットレイトと高精度がより重要であるとの結果から、同社はMicrowave Office®を利用され、その中でACE™（automated circuit extraction）を併用することで、プリント基板設計をより容易にし、精度の確保、効率性の向上を実現しています。
解決策
Microwave Officeは、事前に3D EMで特性を把握したプリント基板で様々な多層スタックアップのライブラリを素早く作成できます。このライブラリには、ビアモデルも含まれ3D EMでシミュレーションした s2p （Sパラメータ）ファイルがリンクされています。最適なビアモデル（スルホール/back-drilled）は、プリント基板の正確なシミュレーションには不可と言えます。Microwave Officeにより可能となったACE技術を利用し、我々は、簡単に、そして効果的に、Microwave Officeのユーザインターフェースを介して、希望とする基板に対して最適なビアモデルを確保しつつシミュレーションすることができた。
更に、ACEにより多くの時間が必要する作業を簡略化し、合理化できた。 明らかに、時間の短縮を実現した。
なぜAWRを選択したのか？
それには、いくつかの理由があります。
- ユーザインターフェースが優れ利用が容易である。
- プリント基板のレイアウトデータの読み込みが簡単でロバストである。
- ACEは高速/正確であり、結果の評価までが短時間に行える。
この様な理由により、Microwave OfficeのACE機能は、同社のテスト基板設計において、成功をもたらす組み合わせである。個人的には、セットアップの時間を含め50%以上の時間短縮を実現できたと確信している。
Brochure
内容に関して、不明な点などありましたらinfo.jp[@]awrcorp.com までお問い合わせ下さい。
"AWRのACE技術を利用することで、Multitest社は製造前に精度良くまた効率良くプリント基板インターフェースをシミュレーションできます。これは、我々のお客様が製品を受け取る前に、信頼を与えることができます。"
Ryan Satrom
Signal Integrity Engineer
Multitest
