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MEDIA ALERT
AWRは、横浜で開催されるEDSFair2011にSIソリューションにフォーカスし出展します
El Segundo, CA - January 26, 2011
内容：
AWR Japan株式会社のオペレーションマネジャである北島徹雄は、｢AWRによるSIソリューションについて｣と題して、1月28日（金） 12:30よりEDSFair2011の出展者セミナー会場にて講演いたします。聴講者の皆さまにおかれましては、AWRのSI/Microwave Office®設計環境に代表される設計ソフトウェアを利用することで、設計効率の向上、複雑な解析における精度向上、タイム-TO-マーケットの時間短縮を実感していただけるものになっています。
更に、同EDSFairのブース102において、高周波領域/高速回路設計に対応したMicrowave Office®高周波回路設計ソフトウェア、AXIEM™ 3次元プレナ電磁場解析ソフトウェアを展示し、随時、デモンストレーションをおこなっております。
AWRブース（番号：102）においては、以下の展示を行っております。
- Altium 社ならびにIntercept Technology 社提供のプリント基板CADによる設計対象のMicrowave Office®を利用した検証に役立つAWR Connected™ for ODB++
- プリント基板CADシステムとの協調設計を可能とするAWR Connected™ for Cadence Allegro インターフェース
- HSPICEとの統合環境によるAWR Signal Integrity (SI) Solution
- AWRの回路図上からHSPICEを起動し、高速で高精度な時間領域でのシミュレーションを実現
- AWRの設計環境に、HSPICEによるシミュレーション結果を表示
- スパイラルあるいは高速チップ/パッケージ/基板上のインターコネクなど基板上の受動素子のAXIEMによる電磁場解析
会場:
パシフィコ横浜 - 横浜市、日本
期間:
2011年１月27日（木）、28日（金） 出展
2011年１月28（金） 12:30 より 出展者セミナー ｢AWRによるSIソリューションについて｣